5月11日，應(yīng)中國科學(xué)院沈陽自動(dòng)化研究所工業(yè)控制網(wǎng)絡(luò)與系統(tǒng)研究室徐皚冬研究員和王鍇副研究員邀請，中科院國際杰出學(xué)者、美國馬里蘭大學(xué)首席教授Michael Pecht來所訪問，并作了題為Advances in the Qualification of Electronics Products的學(xué)術(shù)報(bào)告。
Michael Pecht首先以實(shí)際案例生動(dòng)地講解了可靠性測試的基本概念，并指出了目前可靠性測試方法所存在的缺陷。隨后，他從工程科學(xué)家的角度講述了如何利用基于物理失效模型的方法實(shí)現(xiàn)復(fù)雜機(jī)電系統(tǒng)/產(chǎn)品的現(xiàn)場壽命預(yù)測，進(jìn)而有效提高產(chǎn)品可靠性與預(yù)計(jì)結(jié)果準(zhǔn)確性，為最終實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的預(yù)測性維護(hù)奠定理論基礎(chǔ)。最后，Michael Pecht回答了現(xiàn)場提問，并和與會人員進(jìn)行了熱烈的交流與探討。
來訪期間，Michael Pecht與沈陽自動(dòng)化所所長于海斌、人事教育處處長周船就國家機(jī)器人檢測與評定中心建設(shè)、海外人才引進(jìn)等內(nèi)容進(jìn)行了深入交流，為今后進(jìn)一步合作達(dá)成了一致意見。
Michael Pecht現(xiàn)任美國馬里蘭大學(xué)機(jī)械工程系首席教授、馬里蘭大學(xué)應(yīng)用數(shù)學(xué)系首席教授，是美國馬里蘭大學(xué)先進(jìn)壽命周期工程中心（CALCE）的創(chuàng)始人與負(fù)責(zé)人，該中心得到了全球150多家知名公司的資助，每年獲得的資助超過600萬美元。Michael Pecht是美國科學(xué)/工程院（National Academy of Science / Engineering, NAE / NAS）可靠性委員會成員、美國國會調(diào)查委員會專家（負(fù)責(zé)能源 & 商業(yè)領(lǐng)域）、美國食品與藥品監(jiān)督管理局（FDA）專家，美國電氣電子工程師學(xué)會院士(IEEE Fellow）、美國機(jī)械工程師學(xué)會院士 （ASME Fellow）、國際微電子與封裝協(xié)會院士（IMAPS Fellow和美國汽車工程師學(xué)會院士（SAE Fellow）。鑒于他在可靠性研究領(lǐng)域的卓越貢獻(xiàn)，2007年被授予了可靠性研究和應(yīng)用領(lǐng)域的最高榮譽(yù)——IEEE可靠性分會終身成就獎(jiǎng)。此外，他還獲得過歐洲微納米可靠性大獎(jiǎng)以及電子封裝領(lǐng)域的3M研究獎(jiǎng)等諸多國際獎(jiǎng)項(xiàng)。他曾擔(dān)任IEEE Transactions on Reliability刊物主編八年，同時(shí)在IEEE Spectrum雜志的顧問委員會任職。目前他是Microelectronics Reliability雜志的主編以及IEEE Transactions On Components and Packaging Technology雜志的副主編。他出版過20多本關(guān)于電子產(chǎn)品開發(fā)、使用及供應(yīng)鏈管理的著作，發(fā)表700多篇學(xué)術(shù)論文。主持或參與200多個(gè)政府與工業(yè)界的研究項(xiàng)目，并擔(dān)任22家大型國際電子產(chǎn)品公司的技術(shù)顧問，咨詢服務(wù)內(nèi)容涉及電子產(chǎn)品及系統(tǒng)的策略規(guī)劃、設(shè)計(jì)、測試和壽命預(yù)測、知識產(chǎn)權(quán)及風(fēng)險(xiǎn)評估，其研究成果多次獲得美國有線電視新聞網(wǎng)（CNN）等國際媒體報(bào)道。（工業(yè)控制網(wǎng)絡(luò)與系統(tǒng)研究室）
